青岛丰因行贸易有限公司
W800/W900 粗糙度轮廓测量系统采用统一的系统设计方案和探测系统,能以高度灵活性应对日常测量工作。两个测量平台均为模块化设计,之后可根据需求轻松扩展配置。工业生产过程中对测量精度的要求迥然各异,您可以根据具体的测量要求选择 W800/W900 系统进行测量。W 系列测量系统操作简便,并且配有 Evovis 测量和评估软件,可提供不同国家标准的分析方法。W800 测量系统尤其适合于手动或者自动测量,能应对变化多端的工件和测量任务。 W900 测量系统主要用于定制化的自动化测量,能够完成测量任务。 更加精确– W800: 通用型测量系统,结果精确, 适用于各种测量任务– W900: 可满足超高精度要求的测量系统, 适用于自动化测量更加迅速– W800: 驱动箱定位速度 20 mm/s, 能快速获取精确的结果– W900: 驱动箱速度 200 mm/s,立柱定位重复精度 <10 µm,能在短时间内得到精确的结果更加灵活– W800: 传感器选择性大,可应对各种测量任务– W900: 驱动箱带有两个传感器接口,应用更加灵活
W900测量系统配有快速测量轴,即使遇到复杂的测量任务,也能保证快速的测量速度,因此能满足客户的要求。高精度的驱动箱与 Nanoscan Ⅱ传感器组合,可用于粗糙度和轮廓综合测量,测量精度优异。 W900 测量系统在测量粗糙度、半径、角度和直径等方面展现能力。 Waveline W900 亮点
测量速度快
优异的测量精度
具有两个传感器连接点的驱动箱
创新的整体解决方案
高度灵活的动态测量
丰富的非标准自动化设计方案
两个传感器连接模式– 可将粗糙度传感器固定在驱动箱的前面– 也可以为粗糙度测头选配一个可在 0°、 90°、 180°或者 270° 角度下探测的旋转模块 电动倾斜装置(可选)– 最大倾斜范围 ±45°(取决于传感器)– 电动精确调整倾斜角度– 自动调整驱动箱角度使测臂平行于被测平面– 可以进行 CNC 控制,适用于自动化测量方案 具备测量功能的 立柱– Z 立柱配有分辨率为 0.1 µm 的光栅尺– 可在测针的测量范围之外测量垂直距离– 需要选配双头测针的测臂 可选配的定位平台– 电动 Y 轴或 X-Y 轴组合平台,用于
自动查找被测表面顶点
测量表面形貌
定位工件
– 用于圆柱形工件在圆周方向和轴向上粗糙度测量
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